Труды научно-технической конференции «Техническое зрение в системах управления-2011», Москва 15-17 марта
Page(s)
151-157
Abstract
Предлагается многоэтапная система поиска параметрических кривых на изображении. Сначала производится поиск граничных линий, затем, после ряда подготовительных процедур, результат сохраняется в виде цепочек связанных пикселей. Эти цепочки анализируются целиком и по частям. По-фрагментный анализ, фазы роста фрагмента и слияния фрагментов, постоянный контроль достоверности в смысле хи-квадрат позволяют находить параметрические кривые различных типов одновременно, а из набора моделей выбирать наиболее простую, описывающую кривую с точностью, соответствующей погрешности исходных данных.
